半導體器件可靠性測試所需要用到的環(huán)境試驗設(shè)備JW-5003D

三槽式冷熱沖擊箱JW-5000系列

用于測試材料結(jié)構(gòu)或復合材料,在瞬間經(jīng)溫度以及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，最短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。

產(chǎn)品亮點

●高低溫循環(huán)可達1000次，不結(jié)霜，溫度恢復時間小于5分鐘，轉(zhuǎn)換時間小于10秒。

●三箱式結(jié)構(gòu)，樣品不需移動，易于測試線纜連接，可自由切換兩溫和三溫模式。

●試件放置在固定的測試室內(nèi),不會隨提籃移動,相對靜止，無任何機械沖擊。

●采用彩色觸摸屏控制,界面友好,具有參數(shù)記錄功能，Error信息實時顯示,輕松排除故障。

●流體力學仿真精密計算，變頻技術(shù)與產(chǎn)品工藝制造技術(shù)有效降低能耗。

技術(shù)參數(shù) Technical parameter

測試空間容積： 50-2250升

高溫室溫度范圍： +60至+200℃

溫度恢復時間： ≤5min

試驗室溫度范圍： -72至+180℃

低溫室溫度： -80至-10℃

噪 音： 56-63 dB(A)